Revolucionarni AFM mikroskop za jednostavnu integraciju u SEM
Kombinacija komplementarnih tehnika AFM i SEM omogućuje upotrebu prednosti obje uobičajeno korištene mikroskopske tehnike i donosi brojne novosti i koristi:
- Izvrsne performanse i osjetljivost
- Jedinstveno korelacijsko skeniranje i tehnologija elektronske mikroskopije (CPEM) za zajedničku SEM i AFM analizu određenog područja
- Velik broj sondi i mjernih načina
- Jednostavna integracija u već instalirani SEM
- Jednostavna instalacija i uklanjanje
- Jednostavna i brza zamjena sondi i uzoraka
- Mogućnost rada također kao samostalni mikroskop
- Mogućnost mjerenja kuta (0 ° - 60 °), min. WD = 5 mm
- Kompatibilan sa FIB, GIS, EDX i drugim dodacima
- Sveobuhvatna karakterizacija površine – topografija, hrapavost, magnetska svojstva, provodnost, električna svojstva
- Programska oprema prilagođena korisniku
Područja upotrebe:
- Karakterizacija površine, topografija
- Mehanička svojstva
- Električna svojstva
- Magnetska svojstva
