Analiza pločica čipova

Analiza pločica čipova

FTIR mikroskop LUMOS II je idealan instrument za analizu defekata i kontaminacija u raznim elektroničkim uređajima. Pored vidljive i kemijske karakterizacije kontaminacija, vrlo je jednostavno prikupiti mnogo drugih podataka povezanih s materijalom, čak i na vrlo malim i kompleksnim uzorcima. Mnogo različitih stvari može se analizirati, kao što su inkluzije u polimerima i gumama, kvarovi na mehaničkim dijelovima i strana tijela u farmaceutskim proizvodima, pri čemu ne treba imati posebna prethodna znanja o metodologiji.