Ponuda
Aplikacije
Servis & podrška
Kontaktirajte nas
O nama
Novosti
HR
CZ
EN
SI
HR
Česky
|
English
|
Slovenija
|
Hrvatska
Namjenski sustavi
Technique
Namjenski sustavi
Grade of instrument
Routine QA/QC
R&D
Process
Applications
Farmacija
Poluvodiči
Napredna istraživanja i razvoj
Premazi, ljepila
Izobrazba
Studije okoliša
Hrana, krma, agronomija
Forenzička znanost
Geologija, umjetnost
Industrija
Bioznanost
Plastika i polimeri
Petrokemija
Tanki slojevi, analiza površine
CryoSAS
Sustav za analizu kriogenog silicija
Više informacija >
+ Zainteresiran sam
SiBrickScan
Analiza kisika u silikonskim ingotama
Više informacija >
+ Zainteresiran sam
TANDEM
Web karakterizacija tableta s PAT alatom
Više informacija >
+ Zainteresiran sam
FTIR spektrometri
FTIR mikroskopi
Ramanski spektrometri
Ramanski mikroskopi
FT-NIR spektrometri
Analizatorji plinova
Analizatori mlijeka
Namjenski sustavi
CryoSAS
SiBrickScan
TANDEM
OPUS programska oprema
Mikroskopija na atomsku silu
Kontaktni obrazac
Zainteresiran sam za te proizvode:
TANDEM
Ostavite ovo polje prazno
Ostavite ovo polje prazno
Ostavite ovo polje prazno
Ostavite ovo polje prazno
Ostavite ovo polje prazno
Ostavite ovo polje prazno
Ostavite ovo polje prazno
Ostavite ovo polje prazno
Cijelo ime *
E-mail *
Telefonski broj
Naziv tvrtke
Grad
Zemlja
Pitanje *
Pošalji pitanje >